SN74ABT8952DWR
制造厂商：TI（Texas Instruments，德州仪器）
类别封装：逻辑 - 专用逻辑，产品封装：28-SOIC（0.295，7.50mm 宽）
技术参数：IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
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参数详情：
制造商产品型号：SN74ABT8952DWR制造商：TI公司（Texas Instruments，德州仪器）描述：IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC产品系列：逻辑 - 专用逻辑包装：卷带（TR）,剪切带（CT）系列：74ABT零件状态：停产逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器供电电压：4.5V ~ 5.5V位数：8工作温度：-40°C ~ 85°C安装类型：表面贴装型产品封装：28-SOIC（0.295，7.50mm 宽）SN74ABT8952DWR的订货细节及现货数量，欢迎跟我们的销售代表确认。
