SN74BCT8373ADW
制造厂商：TI（Texas Instruments，德州仪器）
类别封装：逻辑 - 专用逻辑，产品封装：24-SOIC（0.295，7.50mm 宽）
技术参数：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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参数详情：
制造商产品型号：SN74BCT8373ADW制造商：TI公司（Texas Instruments，德州仪器）描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC产品系列：逻辑 - 专用逻辑包装：管件系列：74BCT零件状态：有源逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器供电电压：4.5V ~ 5.5V位数：8工作温度：0°C ~ 70°C安装类型：表面贴装型产品封装：24-SOIC（0.295，7.50mm 宽）SN74BCT8373ADW的订货细节及现货数量，欢迎跟我们的销售代表确认。
