SN74LVTH182512DGGR
制造厂商：TI（Texas Instruments，德州仪器）
类别封装：逻辑 - 专用逻辑，产品封装：64-TFSOP（0.240，6.10mm 宽）
技术参数：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
（专注销售TI电子元器件，承诺原装！现货当天发货！）
（您可通过电话、微信、QQ或邮件与销售代表联系询价及采购）
参数详情：
制造商产品型号：SN74LVTH182512DGGR制造商：TI公司（Texas Instruments，德州仪器）描述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP产品系列：逻辑 - 专用逻辑包装：卷带（TR）,剪切带（CT）系列：74LVTH零件状态：有源逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器供电电压：2.7V ~ 3.6V位数：18工作温度：-40°C ~ 85°C安装类型：表面贴装型产品封装：64-TFSOP（0.240，6.10mm 宽）SN74LVTH182512DGGR的订货细节及现货数量，欢迎跟我们的销售代表确认。
